http://eco-ir-heater.com/hi/tags/%E0%A4%AA%E0%A4%B0%E0%A5%80%E0%A4%95%E0%A5%8D%E0%A4%B7%E0%A4%A3/ Recent content in परीक्षण on Eco-Friendly Infrared Heating Hugo hi Sat, 27 Jun 2026 01:20:07 +0800 http://eco-ir-heater.com/hi/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/ Sat, 27 Jun 2026 01:20:07 +0800 http://eco-ir-heater.com/hi/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/ <p><img src="http://eco-ir-heater.com/images/016cf4f616aaa15e4af48856b8adc51b.png" alt="वेफर बर्न इन टेस्ट हीटिंग लैंप"></p> <p>फैब फ्लोर पर, बर्न-इन एवं फोटोरेसिस्ट बेकिंग के दौरान होने वाले तापीय परिवर्तन, उत्पादन दर को केवल प्रभावित ही नहीं करते, बल्कि उसे पूरी तरह नष्ट भी कर देते हैं। वेफर पर 0.5°C की असमानता, फोटोरेसिस्ट में तापीय असमानताओं का कारण बनती है; ऐसी असमानताएँ एक्सपोजर एवं डेवलपमेंट के बाद आयामी त्रुटियों में बदल जाती हैं। इसलिए, ऐसी स्थितियों में तापमान को एक वास्तविक प्रक्रिया-पैरामीटर के रूप में ही हैंडल करना आवश्यक है… न कि एक अनियंत्रित चर के रूप में।</p>