웨이퍼 벌진 테스트용 가열 램프

제조 공정에서는, 베어인 과정이나 포토레지스트 건조 과정 중에 발생하는 온도 변동이 단순히 생산 효율에 영향을 미치는 것이 아니라, 심지어 생산 자체를 망칠 수도 있습니다. 웨이퍼 전체에 걸쳐 0.5°C의 온도 불균일성이 있다면, 그 차이가 포토레지스트에 직접적인 영...